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中国国际半导体技术大会(CSTIC 2016)最佳论文奖揭晓

核心提示:3月13日开幕的中国国际半导体技术大会(CSTIC 2016)评选出各项最佳论文奖,大会对获奖者表示热烈祝贺,并颁发了证书。

3月13日开幕的中国国际半导体技术大会(CSTIC 2016)评选出各项最佳论文奖,大会对获奖者表示热烈祝贺,并颁发了证书。

SEMI 最佳年轻工程师论文奖

Wang Dulin

XFAB Sarawak, Kuching, Malaysia

论文题目:”Electromigration Failure Mechanism Investigation Between Wafer Level and Package Level Reliability Test in Al Interconnects”

ECS 最佳学生论文一等奖

Alberto  V. de Oliveira

University of Sao Paulo, Brazil / Imec, Leuven, Belgium

论文题目:”Computational Low Frequency Noise and Fin Width Study of Si Passivated

Ge pFinFETS”

ECS 最佳学生论文二等奖

Jie Cheng

State Key Lab. of Tribology Tsinghua University, Beijing, China

论文题目:”Micro-Galvanic Corrosion of Cu/Ru Couple Potassium Periodate (KiO4) Solution”

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