DGT展出LCD Driver Probe Card探针卡

2017-3-16  作者:  来源: SEMI中国

核心提示:DGT公司的LCD Driver Probe Card探针卡应用于LCD Driver IC CP测试。


1) DGT公司的LCD Driver Probe Card探针卡应用于LCD Driver IC CP测试。Pins>1000Pins 、Pitch(间距)小(9μm×25μm)、测试一次性通过率高、寿命长。

2) 其它探针卡产品特性有:

高电压、大电流、IGBT类探针卡:耐高压至6500V、耐大电压至200A

高频类探针卡:频率高>2GHZ、Pins高、全屏蔽处理

高、低温探针卡:能够在高、低温环境下测试(-40~150℃)、平整度高、能够满足多Site同测工艺需求

WAT(低漏电)探针卡:低漏电<0.1pA、特殊基板、全屏蔽处理

LED点测针:铍铜针、通用性强、合金材质、耐磨损、耐大电流

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