长洛精仪展出IC集成电路工程分析探针台与配件

2017-3-16  作者:  来源: SEMI中国

核心提示:IC 集成电路工程分析探针台与配件


1)Thermal Air (TA-5000)

快速转换高 & 低温测试, 全新「变频节能」系统;

可测范围 : -100 ~ 300℃;

温度精度 : ± 1℃;

2)IC 集成电路工程分析探针台与配件

应用领域 : RF/HC/HV/HP 等全方位量测;支持 6~12吋晶圆及-60 ~ 300℃温度量测;3.26~110GHz高频探针;

 

关于网站 广告服务 | 联系我们 | Privacy Policy | semi.org
Copyright © 2016 Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI®). All rights reserved.
沪ICP备06022522号