MCC展示高功率老化测试系统

2017-3-16  作者:  来源: SEMI中国

核心提示:MCC特有的高功率老化测试系统,满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求。


MCC为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试板的设计以及制作,为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案,满足不同用户的底,中,高功率测试要求。

1) MCC特有的独立温控技术(Individual Chip Temperature Control)

为所有集成电路提供最适宜的老化测试方案

2)为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率

3)强大的软件可以实时监控每个Dut的老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率

4) 更好的机台兼容性,中低端设备LC2 有转板的设计,该设计可以通过更换转板使用其他老化厂商的板子,增加客户板子的利用率,降低客户成本

5) 最新的低温设计,提供-40℃到150℃的测试条件

6) Input电源组数最多能达到16组,满足客户更多样的板子设计需求

7) 更为方便的程序转化工具,软件可以直接将ATP,STIL,WGL文件转成MCC需要的格式。方便不同客户快速使用机台

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